JIS B0660-1998 表面粗糙度.术语.第1部分:表面及其参数
时间:2024-04-29 05:15:05 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8552
【英文标准名称】:Surfaceroughness--Terminology--Part1:Surfaceanditsparameters
【原文标准名称】:表面粗糙度.术语.第1部分:表面及其参数
【标准号】:JISB0660-1998
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1998-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonMachineElements
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:表面纹理;表面;表面粗糙度测定;词汇
【英文主题词】:vocabulary;surfaces;surface-roughnessmeasurement;surfacetexture
【摘要】:
【中国标准分类号】:J04
【国际标准分类号】:01_040_17;17_040_20
【页数】:22P;A4
【正文语种】:日语
基本信息
| 标准名称： | 茶叶平面圆筛机 试验方法 |
| 英文名称： | Tea plane-surface round sifter -- Test methods |
| 中标分类： |
农业、林业 >>
农、林机械与设备 >>
农副产品与饲料加工机械 |
| 替代情况： | 替代原标准号ZB B93003.2-1987;被JB/T 9811-2007代替 |
| 发布日期： | 1999-04-05 |
| 实施日期： | 1999-04-05 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2008-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 11 页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 农业 林业 农 林机械与设备 农副产品与饲料加工机械
MIL-STD-701P, MILITARY STANDARD: LISTS OF STANDARD SEMICONDUCTOR DEVICES (20 NOV 1992) [S/S BY MIL-HDBK-5961]., This standard establishes the requirement for the selection of semiconductor devices used in the design and manufacture of military equipment.