基本信息
| 标准名称： | 电子设备密封结构试验方法 |
| 英文名称： | Test methods of densification structure for electronic equipments |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 技术管理 |
| 发布日期： | 1991-04-02 |
| 实施日期： | 1991-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 15页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 技术管理