BS QC 750114-1996 电子元器件质量评定协调体系.半导体器件.分立器件.场效应晶体管.转换电路用场效应晶体管空白详细规范
时间:2024-05-28 05:40:45 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8188
【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Semiconductordevices-Discretedevices-Field-effecttransistors-Blankdetailspecificationforcase-ratedfield-effecttransistorsforswitchingapplications
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.半导体器件.分立器件.场效应晶体管.转换电路用场效应晶体管空白详细规范
【标准号】:BSQC750114-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-12-15
【实施或试行日期】:1996-12-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验条件;电子设备及元件;资格鉴定;检验;质量评估;质量评估;半导体器件;评估的质量;认可试验;规范(验收);晶体管;场效应晶体管;详细规范;质量保证体系
【英文主题词】:Detailspecification;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Semiconductordevices;Specification;Transistors
【摘要】:TobereadinconjunctionwithBSQC700000:1991,BSQC750100:1986
【中国标准分类号】:L44
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Testingofpaperandboard-DeterminationofthesmoothnessbytheBekkmethod
【原文标准名称】:纸和纸板的试验.Bekk法测定平滑度
【标准号】:DIN53107-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检验;试验报告;测量技术;纸;平滑度(表面);试验(质量保证);试验设备;纸板;维修;定义;试验;设计;材料试验;测量;BEKK;试样
【英文主题词】:Bekk;Board(paper);Definitions;Design;Examination(qualityassurance);Inspection;Maintenance;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Paper;Samples;Smoothness(surface);Testequipment;Testreports;Testing
【摘要】:ThisStandardspecifiesatestmethodforthedeterminationofthesmoothnessbytheBekkmethod.
【中国标准分类号】:Y30
【国际标准分类号】:85_060
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语
Product Code:SAE AMS7456
Title:Studs, Low-Alloy Steel Heat Treated, Rolled Threaded (Uns G87400) (Cancelled Jul 2002)
Issuing Committee:Ams E Carbon And Low Alloy Steels Committee
Scope: